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INF60-LP激光平面币安钱包app

产品型号:INF60-LP

平面光学元件表面面型测量

  • 特点:
  • 用途:
  • 技术参数:

结构紧凑,小型化,防尘效果好


平面光学元件表面面型测量

测量方式:菲索干涉原理

通光口径:Φ60mm

测试波长:635nm(半导体激光器)

对准方式:简单两点对准

对准视场:±0.5度

平面标准镜精度:PV:λ/20